Izdelki za astronomske mreže za napredne korisnike (9)

Prüfeinrichtung digital Anpressdruck und Messzeit nach Norm, Anzeige des Messablaufs durch optisches und akustisches Signal, Messwertspeicher für 300 Messwerte Vorzüge der Prüfeinrichtung Konstante Absenkgeschwindigkeit: max 3.2 mm/s Automatische Kraftaufbringung nach Norm. Anpressdruck und Messzeit nach Norm, Anzeige des Messablaufs durch optisches und akustisches Signal, Messwertspeicher für 300 Messwerte Vorzüge der Prüfeinrichtung Konstante Absenkgeschwindigkeit: max 3.2 mm/s Automatische Kraftaufbringung nach Norm Normen DIN ISO 7619, ASTM D 2240

Fizeau Interferometer, 4″ -System, Tabletop system, Automatic interference evaluation. max. probe diam.:4"

The new generation of Micro-Epsilon’s 3D sensors impresses with high accuracy during measurement and assessment of components and surfaces. The surfaceCONTROL and reflectCONTROL inspection systems from Micro-Epsilon are intended for matt and shiny surfaces respectively. The 3D snapshots are recorded in a short time and provide detailed 3D point clouds. These 3D sensors are used, e.g., for geometric component testing, position determination, presence checks and the measurement of flatness or planarity. Thanks to their high performance, the sensors are used for inline applications, on robots and also for offline inspection.

Valuable, portable measuring microscope with integrated coaxial and angular incident illumination. steady, anodized aluminium body focussing by knurled ring and fine-pitch thread transformer with LED or battery LED lamp Magnifications:20x tos 800x Fields of view:8.9 mm to 0.35 mm Measurement range:Z 8 mm

Integrating sphere source with 100 mm output port calibrated in spectral radiance 300 nm – 1100 nm. Features: 30 cm integrating sphere. 100 W halogen lamp. Manually adjustable variable iris for intensity Setting. Photometric monitor. Control unit.

Features - Configuration and management of EtherCAT networks - Cyclic exchange of process data - Sophisticated API common to all implementations as interface between the application and the EtherCAT Master Stack - Mailbox based communication with: CAN application protocol over EtherCAT (CoE) Ethernet over EtherCAT (EoE) File over EtherCAT (FoE) Servo Drive over EtherCAT (SoE) - Built-in detailed diagnostics and profiling functions - Written in ANSI-C designed with high performance, small resource usage and scalability in mind - The core components are operating system (OS) and CPU architecture independent - Adaption to many prevalent (real-time) operating systems available from stock - EtherCAT Master Class A according to ETG.1500 esd electronics is a member of the EtherCAT Technology Group (ETG).

System CoMeT służy do pomiaru skuteczności ekranowania (impedancji przenoszenia, tłumienności ekranowania i tłumienności sprzężenia) kabli koncentrycznych i symetrycznych, złącz, tulei, elementów rozdzielczych itp. Oryginalny CoMeT (Coupling Measuring Tube) stał się kompletnym systemem. Zasadniczo kablowa stacja pomiarowa składa się z następujących elementów podstawowych: Oprócz systemów rur okrągłych o różnych wymiarach dla kabli i złączy, istnieją również tzw. cele "triaxialne", które oferują większą objętość komory pomiarowej dla części, które ze względu na swoją geometrię (gniazda, rozdzielacze, itp.) nie mogą być wprowadzone do jednej z rur.

Der optische 3D-Profilometer Nexview™ NX2 wurde für die anspruchsvollsten Anwendungen entwickelt und kombiniert besonders hohe Präzision, fortschrittliche Algorithmen, Anwendungsflexibilität und Automatisierung in einem einzigen Paket, und ist somit ZYGOs fortschrittlichster scannendes Weisslichtinterferometer (CSI) Profilometer. Diese vollständig berührungslose Technologie optimiert die Rentabilität, indem sie bei allen Vergrößerungen die gleiche Sub-Nanometer-Präzision liefert und eine größere Bandbreite von Oberflächen schneller und präziser misst als andere vergleichbare kommerziell erhältliche Technologien. Mit den verschiedensten Anwendungen wie Ebenheit, Rauheit, Welligkeit, Dünnschichten, Stufenhöhen usw. ist das Nexview NX2 für praktisch jede Oberfläche und jedes Material das kompromisslose Profilometer. 1,9 MP Großflächen Hochgeschwindigkeitsmessungen Automatisierte Teilefokussierung und -einstellung Messmitelfähige Performance Die vibrationsresistente Messtechnik

stable granite and iron cast stand with manual z-adjustment high performance stepper motion controller with joystick and serial interface XY Stage GT8, Rotary Stage RT5, Wafer-Chuck WC6 precise xy stage GT8 with 200 x 200 mm stroke rotary stage RT5 with high round- and flat runout below 5 µm wafer-chuck WC6 for 4-12" wafer wafer-chuck with vacuum-fixture for 12", 10", 8", 6" and 4" wafer